خانه » پژوهش » رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

اصطلاحات “نسبت کنتراست”، ” کدورت” و ” قدرت مخفی” در سراسر صنعت پوشش به جای یکدیگر به کار می روند. در معرفی این دستگاه کدورت مد نظر است. کدورت بعنوان توانایی یک پوشش برای جلوگیری از انتقال نور تعریف شده است. یک مثال عملی، موردی است که یک دیوار زرد رنگ با استفاده از رنگ قرمز پوشش داده شده باشد. هرچه کدورت رنگ قرمز بیشتر باشد، در پنهان کردن رنگ زرد زمینه کارآمدتراست.

اینکه چگونه یک فیلم تر از سطح مورد تست، در یک الگوی سیاه و سفید به کار گرفته می شود را کدورت تعریف می کنیم. بعد از اینکه فیلم خشک شد، یک رفلکتومتر یا بازتاب سنج یا اسپکتروفتومتر برای اندازه گیری نور بازتاب شده از سطح سیاه استفاده می شود. سپس این مقدار بعنوان درصد مقدار نور بازتاب شده از سطح سفید پوشش داده شده بیان می شود. این مقدار کدورت را نشان می دهد.

رفلکتومتر مدل BGD 581 ساخت چین، با استاندارهای جهانی  ISO2814, ISO 3906 , ISO 6504,BS 3900 and DIN 55984  طراحی و ساخته شده است.

مشخصات فنی دستگاه رفلکتومتر

  • رنج اندازه گیری: 0 تا 100 %
  • شرایط اندازه گیری: 45°/ 0
  • تکرار پذیری: 5/1 %

Push the limits for refractive index measurements

Our reflectometers feature most accurate single beam reflectance measurements by height and tilt adjustment of sample and high light conductance of optical layout allow repeatable measurements of n andk, measurements on rough surfaces as well as thickness measurements of very thin films.

UV to NIR spectral range

RM 1000          430 nm – 930 nm

RM 2000          200 nm – 930 nm

High resolution mapping

The reflectometers RM 1000 and RM 2000 can optionally be equipped with an x‑y mapping stage and mapping software, objective lens for small spot size, and a video camera.

The spectroscopic reflectometers RM 1000 and RM 2000 measure reflectance of flat or curved samples with smooth or rough surface. Thickness, extinction coefficient, and refractive index of single films or layer stacks are calculated using SENTECH FTPadv Expert software. Single films between 5 nm and 50 µm thickness, layer stacks, and substrates can be analyzed in the UV‑VIS‑NIR spectral range.

The RM 1000 and RM 2000 represent high end SENTECH reflectometers. The table top device comprises the highly stabilized light source, the reflection optics with auto-collimating telescope and microscope, the height and tilt adjustable sample platform, the spectral photometer, and the power supply. It can be optionally equipped with an x‑y mapping stage and mapping software, objective lens for a second spot size, and a video camera.

Besides film thickness and optical constants, the composition of films (e. g. of AlGaN on GaN, SiGe on Si), AR coating (e. g. on textured silicon solar cells, UV sensitive GaN devices), and coatings on small medical stents can be measured by our reflectometers. These reflectometers support applications in microelectronics, microsystems technology, optoelectronics, glass coatings, flat panel technology, life science, biotechnology, and others.

RM1000_SolarzellenRM2000_MappingstageRM_Mapping

The comprehensive, recipe oriented FTPadv EXPERT software for our reflectometers RM 1000 / 2000 includes measurement set-up, data acquisition, modeling, fitting, and reporting. An extensive database of predefined customer proven and ready to use applications is already built in. The AutoModel option allows for automatic selection of sample model from a spectra library. Based on SENTECH expertise in spectroscopic ellipsometry, a large materials library and the variety of dispersion models allow the analysis of nearly all materials and films by our spectroscopicreflectometers. The data library can easily be updated with new optical data by the operator. SENTECH supports its customers with the measurement of new materials with unknown optical properties by spectroscopic ellipsometry.

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

رفلکتومتر Reflectometer

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد.