طیف‌نگاری فوتوالکترون پرتو ایکس

اين مجموعه شامل روش های آنالیز حساس به سطح است که با طیف‌ نگاری الکتروني از سطح مورد بررسی، آنالیز شيميايي را انجام می دهد.

فرآیند تشکیل ترکیبات گوناگون روی سطوح مواد، به صورت یک لایه ‌نازک، تنها به کمک این روش قابل بررسی است.

این مجموعه قادر به بررسی در حد لایه‌  تمی از سطح ماده است.

[child_pages width=”50%”]

طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس

نام محصول : طیف‌نگاری فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)
دسته بندی : دستگاه‌های انالیز سطح

– آنالیز شیمیایی كمّي و كيفي سطح نمونه ‌ي جامد و عمق نمونه توسط بمباران یونی
– شناسايي حالت شيميايي گونه‌ هاي سطحي (از جمله حالت اكسايش عنصر)

دیدگاهتان را بنویسید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *